产品名称：封装用冷热交替冲击试验箱

冷热交替冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA. PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。

冷热冲击试验箱(也叫温度冲击试验箱)是用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在*短时间内试验其因热胀冷缩所引|起的化学变化或物理伤害,确认产品的品质适用的对象包括电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业及国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化。

内容积：50L
内箱尺寸：400 350 350mm (W H D)
外型尺寸(约)：155017501600mm (W* H *D)
丝瓜视频黄色下载的产品重量约700kg，适合在大多数场地使用。搬运途径、场地、长宽高等均不受限制。
丝瓜视频黄色下载的冷热冲击试验箱满足多种标准，包括GB/T2423.1-2008低温试验方法、GB/T2423.2-2008高温试验方法、GB/T2423.22-2012温度变化试验、GJB150.5-86温度冲击试验、GJB360.7-87温度冲击试验、GJB367.2-87温度冲击试验和QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等。
测试室温度范围为-40℃～+150℃，低温冲击范围为-10℃～-40℃，高温冲击范围为60℃～150℃。高温室预热温度范围为RT～+165℃，升温时间+50℃→+165℃ ≤30min。低温室预冷温度范围为RT～-55℃，降温时间+20℃ → -55℃≤约60min。
试验室（试样区）采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击，完成冷热温度冲击测试。温度波动度为±0.5℃，温度偏差为±2.0℃，温度恢复时间≤5min，转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）。冲击暴露时间≥30min。