产品名称：封装测试温冲试验箱

光电测试三箱式冷热冲击试验箱是一种用于测试材料在瞬间高温和低温环境下的耐受程度的试验设备。它由高温区、低温区和测试区三部分组成，测试样品静止于测试区。设备采用的设计，通过强制冷热风路切换的方式将高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击，以完成冷热温度冲击测试。

该设备具有广泛的应用领域，如电子电器零组件、塑胶、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业。它可以用来测试材料结构或复合材料在高温和极低温连续环境下的忍受程度，以及物理性变化。

光电测试三箱式冷热冲击试验箱在性能指标方面，三箱式冷热冲击试验箱满足多个国家和国际标准，如GB/T2423.1-2008低温试验方法、GB/T2423.2-2008高温试验方法、GB/T2423.22-2012温度变化试验等。

测试室温度范围为-40℃～+150℃，具有低温冲击范围为-10℃～-40℃，高温冲击范围为60℃～150℃。

高温室预热温度范围为RT～+165℃，升温时间+50℃→+165℃ ≤30min。

低温室预冷温度范围为RT～-55℃，降温时间+20℃ → -55℃≤约60min。

此外，冲击暴露时间大于等于30min。

光电测试三箱式冷热冲击试验箱试验室（试样区）采用之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。温度波动度为±0.5℃，温度偏差为±2.0℃，温度恢复时间为≤5min，转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）。